2024-07-02
采用一定的工藝，把一個電路中所需的晶體管、二極管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上，然后封裝在一個管殼內，成為具有所需電路功能的微型結構。
芯片外觀檢測：
集成電路（IC）芯片在封裝工序之后，必須要經(jīng)過嚴格地檢測才能保證產品的質量，芯片外觀檢測是一項必不可少的重要環(huán)節(jié)，它直接影響到 IC 產品的質量及后續(xù)生產環(huán)節(jié)的順利進行。外觀檢測的方法有：
一是傳統(tǒng)的手工檢測方法，主要靠目測，手工分檢，可靠性不高，檢測效率較低，勞動強度大，檢測缺陷有疏漏，無法適應大批量生產制造；
二是基于激光測量技術的檢測方法，該方法對設備的硬件要求較高，成本相應較高，設備故障率高，維護較為困難。
采用一定的工藝，把一個電路中所需的晶體管、二極管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上，然后封裝在一個管殼內，成為具有所需電路功能的微型結構。
芯片外觀檢測：
集成電路（IC）芯片在封裝工序之后，必須要經(jīng)過嚴格地檢測才能保證產品的質量，芯片外觀檢測是一項必不可少的重要環(huán)節(jié)，它直接影響到 IC 產品的質量及后續(xù)生產環(huán)節(jié)的順利進行。外觀檢測的方法有：
一是傳統(tǒng)的手工檢測方法，主要靠目測，手工分檢，可靠性不高，檢測效率較低，勞動強度大，檢測缺陷有疏漏，無法適應大批量生產制造；
二是基于激光測量技術的檢測方法，該方法對設備的硬件要求較高，成本相應較高，設備故障率高，維護較為困難。
